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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-橢偏儀系列-專用型橢偏儀-SE-i 光譜橢偏儀
簡要描述：紅外橢偏儀,SE-i光譜橢偏儀針對有機/無機鍍膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測中的定制化開發(fā)，可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，橢偏測量頭快速實現(xiàn)光學薄膜原位表征分析
產(chǎn)品型號： 更新時間：2025-04-27 瀏覽次數(shù)：2380
廠家實力
Manufacturer Strength
有效保修
Valid Warranty
質(zhì)量保障
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PRODUCT CATEGORY
詳細介紹
一、概述
| SE-Vi 是一款集成式原位光譜橢偏儀，針對有機/無機鍍 膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測中的定制化 開發(fā)，快速實現(xiàn)光學薄膜原位表征分析。 |  |
二、測試案例
成膜工藝監(jiān)控
膜厚表征
三、產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于金屬薄膜、有機薄膜、無機薄膜的物理/化學氣相沉積，ALD沉積等光學薄膜工藝過程中實際原位在線監(jiān)測并實時反饋測量物性數(shù)據(jù)。
技術(shù)參數(shù)
武漢頤光科技有限公司(Wuhan eoptics Technology Co., Ltd.)是國內(nèi)專業(yè)從事橢偏儀以及光學納米測量設(shè)備研發(fā)、制造與銷售的高新技術(shù)企業(yè)，公司由多位具有二十多年偏振光學測量經(jīng)驗的專家聯(lián)合創(chuàng)辦，與華中科技大學緊密合作，是國內(nèi)橢偏光學儀器領(lǐng)域頗具優(yōu)勢的技術(shù)團隊。
公司注冊于武漢東湖國家自主創(chuàng)新示范區(qū)，立足光谷，面向全球，為科研和工業(yè)用戶提供儀器、軟件、服務(wù)等綜合解決方案。
產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于集成電路、半導體、光伏太陽能、平板顯示、LED照明、存儲、生物、醫(yī)藥、化學、電化學、光學鍍膜、光刻材料等眾多領(lǐng)域。
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